（日立 H-800）
（日本電子 JEM-1010）
（日本電子 JEM-100S）
（日立 S-4100）
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透過型電子顕微鏡 （日立 H-800） |
透過型電子顕微鏡 （日本電子 JEM-1010） |
透過型電子顕微鏡 （日本電子 JEM-100S） |
走査型電子顕微鏡 （日立 S-4100） |
お知らせ利用法用途の概要仕様| 分解能 | ： 格子像 0.204nm 、 粒子像 0.35nm |
| 加速電圧 | ： 35、75、100、150、175、200KV（6段） 35KVはSTE/SEM専用 |
| 試料室 | ： サイド/トップ共用 |
| 倍率 | ： 1,000〜600,000倍（LOW MAG 100〜500倍） 像無回転ズーム方式 |
| フィルムサイズ | ： 8.2×11.8cm、35mmフィルム |
| 分解能 | ： SEM 3.5nm 、 STEM 1.5nm |
| 加速電圧 | ： 35、75、100、150、175、200KV（6段） |
| ディスプレー部 | ： CRTは観察用９インチ、撮影用は8インチで、撮影時の走査線数は2,000本 |
| 倍率 | ： STEM 100〜800,000倍、SEM 20〜800,000倍 |
| 方式 | ： 撮影視野の重なり範囲補性機能付、試料位置記憶数最大10点 |
| 倍率範囲 | ： 100〜5,000倍 |
| 移動範囲 | ： X・Y軸 ±1,000μm |
| 方式 | ： 第2投射レンズと蛍光板間にロールフィルム室をおく |
| 撮影枚数 | ： 36枚撮り、シャッター連動自動巻取り |
| 撮影視野 | ： 22〜34mm |
| 分解能 | ： 格子像 0.2nm 、 粒子像 0.4nm |
| 加速電圧 | ： 40〜100KV |
| 試料室 | ： サイドエントリー方式 |
| 倍率 | ： 800〜600,000倍 |
| フィルムサイズ | ： 5.9×8.2cm |
| 分解能 | ： 格子像 0.34nm 、 粒子像 0.5nm |
| 加速電圧 | ： 40、60、80、100KV |
| 試料室 | ： サイドエントリー方式 | 倍率 | ： 100〜200,000倍（18段） |
| 試料傾斜角 | ： ±10℃ |
| フィルムサイズ | ： 5.9×8.2cm |
| 分解能 | ： 1.5nm（加速電圧 30KV WD=5mm） |
| 加速電圧 | ： 0.5〜30KV（100Vステップ） |
| 倍率 | ： 20〜300,000倍 |
| 試料サイズ | ： 最大102mm（直径） |
| 試料移動 | ： Ｘ・Ｙ方向 0〜25mm |
| ： Ｚ方向 5〜30mm | |
| 試料回転 | ： 360° |
| 試料傾斜角 | ： -5〜+45° |
| 非点補正装置 | ： 電磁形 |
| フィルムサイズ | ： ブロニー 6×7cm |
| 分解能 | ： 7nm(二次電子像、WD=8mm) |
| 加速電圧 | ： 2、5、10、15、25KV |
| 倍率 | ： 60〜170,000倍（WD= 8mm） |
| ： 35〜100,000倍（WD=20mm） | |
| ： 15〜100,000倍（WD=48mm） | 試料サイズ | ： 最大10mm、高さ10mm以下 |
| 試料移動 | ： Ｘ・Ｙ方向 ±10mm |
| 試料回転 | ： 360° |
| 試料傾斜角 | ： -45〜+90° |
| 動作距離(WD) | ： 8、20、48mm |
| 非点補正装置 | ： 電磁形 |
| 二次電子検出器 | ： シンチレーター |
| フィルムサイズ | ： ブロニー 6×7cm |
設備・機器利用便覧